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技術(shù)文章

TECHNICAL ARTICLES

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  • 20248-21
    應(yīng)用分享 | 異形器件的失效分析測試方案之原位XPS+AES

    失效分析(FailureAnalysis)是探究元器件失效根源的重要手段,旨在為元器件設(shè)計、工藝、制造等流程提供改進(jìn)方向,從而提升產(chǎn)品良率和可靠性。在失效分析中,經(jīng)常遇到異形器件,其不規(guī)則的形狀與多元組件構(gòu)成的特征尤為明顯,直接影響著產(chǎn)品的性能。值得注意的是,特征尺寸在微米/亞微米級別的異形器件的表征往往存在著諸多挑戰(zhàn)。一方面,受限于傳統(tǒng)分析設(shè)備的空間分辨能力,元器件微小特征的微區(qū)分析會遇到難以準(zhǔn)確定位和準(zhǔn)確分析的障礙,直接影響了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。對此,PHI創(chuàng)新性推出了掃描...

  • 20248-21
    應(yīng)用分享 | 固態(tài)電池中電解質(zhì)/金屬鋰界面的XPS-HAXPES表征

    以立方石榴石型Li7La3Zr2O12(LLZO)作為固態(tài)電解質(zhì)的固態(tài)電池(SSB),具有高鋰離子電導(dǎo)率、低電子導(dǎo)電率(EC)、高機(jī)械和熱穩(wěn)定性以及寬電化學(xué)窗口等特點(diǎn),有望成為推動下一代儲能技術(shù)騰飛的“種子選手”。不過研究發(fā)現(xiàn)LLZO表面容易產(chǎn)生由LiOH和Li2CO3組成的鋰離子非均勻(厚度、成分差異)絕緣層,導(dǎo)致LLZO與金屬鋰的潤濕性較差,從而在充放電過程中引起高界面電阻甚至是Li枝晶的形成,嚴(yán)重影響LLZO-SSBs的電化學(xué)性能。為了增強(qiáng)固態(tài)電解質(zhì)與金屬鋰的浸潤性,本...

  • 20248-17
    X射線顯微成像系統(tǒng):科技的眼,洞察微觀世界

    在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)迅猛發(fā)展的今天,X射線顯微成像系統(tǒng)以其獨(dú)特的優(yōu)勢,在材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等諸多領(lǐng)域發(fā)揮著越來越重要的作用。這種技術(shù)通過利用X射線的強(qiáng)大穿透力和高分辨率成像能力,為科學(xué)家們提供了一種非破壞性的方式,深入觀察和分析各種材料的微觀結(jié)構(gòu)。X射線顯微成像系統(tǒng)基于X射線與物質(zhì)相互作用時的吸收和相移特性。當(dāng)X射線穿過樣本時,不同密度和厚度的區(qū)域會以不同的程度吸收X射線,從而形成一幅反映樣本內(nèi)部結(jié)構(gòu)的圖像。通過高精度的探測器和先進(jìn)的圖像處理算法,顯微成像系統(tǒng)能夠?qū)⑦@種差別轉(zhuǎn)化...

  • 20248-14
    應(yīng)用分享 | GCIB團(tuán)簇離子尺寸的自主調(diào)控和實(shí)際測量

    離子濺射源,作為表面分析設(shè)備(如XPS、AES和TOF-SIMS)的重要組件之一,不僅能清潔樣品表面,還能輔助深度剖析,揭示樣品的內(nèi)在結(jié)構(gòu)。根據(jù)構(gòu)成濺射離子的原子/分子個數(shù),可將離子濺射源分為單離子源(如:Ar+、Xe+、O2+)和團(tuán)簇離子源(如:C60、GCIB(GasClusterIonBeam))。其中,GCIB是由數(shù)百乃至數(shù)千個氣體原子/分子(如Ar-GCIB)組成的離子束,它能夠以極低的單原子能量進(jìn)行蝕刻,實(shí)現(xiàn)樣品表面的平坦化效果。正因如此,GCIB在有機(jī)物刻蝕方面...

  • 20248-14
    應(yīng)用分享 | 燃料電池電極界面的XPS-HAXPES表征

    質(zhì)子交換膜燃料電池(PEMFC),作為化石燃料具有潛力的可替代者而備受關(guān)注。燃料電池由陽極、陰極和電解質(zhì)組成,其中電催化氧氣還原和氫氣氧化分別在不同的電極上單獨(dú)進(jìn)行,電子和質(zhì)子分別通過電路和離子交換膜傳輸。為了加速PEMFC的氧還原反應(yīng)(ORR)動力學(xué),在陰極側(cè)構(gòu)筑了高活性和穩(wěn)定性的催化層。催化層通常由催化材料和具備離子傳導(dǎo)性的離子聚合物組成,其化學(xué)態(tài)明顯影響著整個燃料電池的性能。近年來,開發(fā)替代昂貴商用鉑族金屬(PGMs)催化劑(如Pt/C)是當(dāng)前的研究重點(diǎn)。低成本、高活性...

  • 20248-14
    晶體日記 (十五)- 真實(shí)的數(shù)據(jù)質(zhì)量(2)

    評判數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的指標(biāo)也許是歷史傳統(tǒng)的問題,Rint(Rsym,Rmerge)被選中了作為評判數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的指標(biāo)。甚至在很多不是很專業(yè)的書里,學(xué)生們都被告知Rint需要低于多少,I/σ高于多少才能表示數(shù)據(jù)可用。于是乎,這些數(shù)值變成了評判數(shù)據(jù)質(zhì)量所謂的金標(biāo)準(zhǔn)??墒钱?dāng)提問Rint是什么意義時,跟什么因素相關(guān)時,大多數(shù)同學(xué)卻卡在了那里。可能Rint在大多數(shù)同學(xué)眼里就是個發(fā)表文章的門檻數(shù)值,具體是什么意義已經(jīng)不再重要。不然就不會有那么多同學(xué)追問著怎么把Rint修下去,或者解決掉所謂的“錯誤”...

  • 20248-14
    晶體日記 (十四) - 真實(shí)的數(shù)據(jù)質(zhì)量(1)

    數(shù)據(jù)前幾天涉及到一個數(shù)據(jù),我和一個老師爭論了一陣的Checkcif問題。晶體數(shù)據(jù)很清晰的顯示的原子的位置,在Checkcif里卻認(rèn)為是有問題的Alert。如果是修,自然是可以修掉的,但是作為一個晶體學(xué)工作者的尊嚴(yán),為了修而修,這不是科學(xué),就成了畫畫了。但這個爭論也只持續(xù)了一會,我自知無力改變什么,一個科學(xué)發(fā)現(xiàn)就這樣淹沒在checkcif里。如同Alert簡單粗暴的被90%以上的同學(xué)和老師稱之為錯誤,即便解釋了再多遍,也鮮有人認(rèn)真去改正。讀過Checkcif歷史的同學(xué)都會知道,...

  • 20248-8
    晶體日記 (十三) - “心結(jié)”

    有意思的晶體有些有意思的晶體只在書里看到過,現(xiàn)實(shí)中總也碰不到就覺得特別的惋惜。不過就算遇到了,心里也在那里犯嘀咕,不到后面解出合理的結(jié)構(gòu),總不能確定到底猜謎猜的對不對。不知道有多少人在書里看到這么一個例子,一個看起來超級像六方的晶體,實(shí)際上是三個正交晶體的孿晶。不過書里沒有衍射圖,所有的分析都是基于hkl文件的規(guī)律獲得。整個推理的過程,書里寫的很詳細(xì),但是自己讀的云里霧里,無奈只好苦笑于做學(xué)生時沒有好好讀書,打好基礎(chǔ),太急功近利,關(guān)注于結(jié)果。不過還好重點(diǎn)還是能get到的,簡單...

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