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—用于快速準確的半導體質(zhì)量控制和分析的新型生產(chǎn)車間工具分析半導體從晶圓到終端器件的狀態(tài)被認為是高難度的工作，很少有分析設(shè)備可以直接用作生產(chǎn)中材料質(zhì)量好壞的“裁決者”。--表面光電壓技術(shù)新品亮相德國FreibergInstruments全新的高分辨率表面光電壓光譜(HR-SPS)是一個真正的生產(chǎn)型設(shè)備，因為它在不影響工藝產(chǎn)出速度的情況下完成工作。HR-SPS檢查生產(chǎn)中使用的材料的關(guān)鍵良率參數(shù)-無論是硅、碳化硅還是其他半導體或光活性材料。產(chǎn)品介紹HR-SPS設(shè)備測量材料在一個或多...

全球-PHIGENESIS在近期已到達束蘊儀器（上海）有限公司的倫琴實驗室并完成安裝調(diào)試。倫琴實驗室是國內(nèi)專業(yè)從事X射線相關(guān)分析與開發(fā)的機構(gòu)，提供多方位的X射線測試服務(wù)，以廠家應(yīng)用實驗室標準配置了新型設(shè)備。針對復雜材料和器件完成從晶體結(jié)構(gòu)到電子結(jié)構(gòu)的完善解析，以及從埃米到毫米的跨尺度表征。束蘊儀器的測試團隊由應(yīng)用專家領(lǐng)導，同時與Bruker，ULVAC-PHI等儀器制造商為深度合作伙伴。ULVAC-PHI于2022年7月推出了具備有多功能平臺的X射線光電子能譜儀（XPS）-P...

半導體元器件是現(xiàn)代電子技術(shù)中最為重要的組成部分之一。它們通過控制電流和電壓來實現(xiàn)信息的處理和傳輸，被廣泛應(yīng)用于計算機、通信、醫(yī)療、能源等領(lǐng)域。CT-半導體元器件主要包括二極管、三極管、場效應(yīng)管、集成電路等。其中，二極管是Z簡單的半導體元器件，它由P型和N型半導體構(gòu)成，具有單向?qū)щ娦再|(zhì)。在電路中，二極管可用于整流、限流、穩(wěn)壓等方面。三極管則由P型、N型半導體以及中間的控制區(qū)組成，可以放大或開關(guān)電路。場效應(yīng)管則是一種控制電流的元器件，其特點是輸入電阻高、噪聲低，適用于高頻電路。集...

電子自旋共振波譜儀(ElectronSpinResonanceSpectrometer,ESR)是一種分析物質(zhì)中未成對電子的技術(shù)。它利用電子在磁場中的行為來測量樣品中的未成對電子數(shù)量、結(jié)構(gòu)和動力學。在一個ESR實驗中，樣品被置于一個恒定的強磁場中，然后通過向樣品施加微波或射頻輻射來激發(fā)未成對電子的自旋。當微波或射頻能量與未成對電子的自旋相互作用時，能量將被吸收，導致樣品中未成對電子的自旋狀態(tài)發(fā)生變化。通過在吸收能量時記錄所施加的微波或射頻輻射的頻率，可以獲得有關(guān)未成對電子的信...

高分辨X射線顯微鏡是X射線成像術(shù)的一種，也是顯微成像技術(shù)，即將微觀的、肉眼無法分辨看出的結(jié)構(gòu)、圖形放大成像以便觀察研究的器械。X射線成像的襯度原理、設(shè)備的構(gòu)造與主要組成部件(如X射線源、探測器等)，但主要是從宏觀物體的成像(如人體器管的醫(yī)學成像、機械制品的缺陷探傷、機場車站的安全檢查等)出發(fā)的。宏觀成像與微觀成像有相通之處，如襯度原理、設(shè)備的主要組成部件等，但也有區(qū)別。高分辨X射線顯微鏡的成像原理與光學顯微鏡基本上是一樣的，遵從幾何光學原理，其關(guān)鍵部件是成像和放大作用的光學元...

X射線衍射儀分為單晶衍射儀和多晶衍射儀兩種。單晶衍射儀的被測對象為單晶體試樣，主要用于確定未知晶體材料的晶體結(jié)構(gòu)。基本原理：在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線(如Cu的Kα輻射)射到一粒單晶體上會發(fā)生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律，也即解出晶體的結(jié)構(gòu)。X射線衍射儀結(jié)構(gòu)組成：(1)X射線發(fā)生器——產(chǎn)生X射線的裝置;X射線發(fā)生器由X射線管、高壓發(fā)生器、管壓和管流穩(wěn)定電路以及各種保護電路等部分組成。現(xiàn)代衍射用的X射線管都屬于熱電子管，有密封式...

熒光光譜儀是通過X射線管產(chǎn)生的X射線作為激光源，激發(fā)光源激發(fā)樣品產(chǎn)生X熒光射線。根據(jù)熒光X射線的波長和強度來確定樣品的化學組成。作為一種質(zhì)量檢測手段，光譜儀在我國各行各業(yè)應(yīng)用越來越廣泛。研究光譜儀在分析過程中的誤差，提高儀器的分析準確度成為重要的課題。熒光分析過程中產(chǎn)生誤差的原因主要有操作方面、儀器方面、以及試樣本身等三方面因素。一、在熒光光譜儀分析中操作方面帶來誤差的因素：1、在光譜儀分析制樣過程中，粉磨時未設(shè)定好粉磨時間和壓力，達不到要求的粉磨粒度或相應(yīng)的料度分布。實驗表...

目前市場上熒光光譜儀的品類與品牌都比較多。尤其很多生產(chǎn)為了更好的體現(xiàn)，運用了針對性，保障價值的實惠性，會在具體的功效內(nèi)容以及材質(zhì)運用上有所差異。所以要想更好的了解光譜儀的品質(zhì)是否保障，從以下幾個要點入手分析很有必要。一、模塊細節(jié)的內(nèi)容組成現(xiàn)如今作用好的熒光光譜儀一般都是建立在激光光源、原子化器、光學系統(tǒng)、檢測器相關(guān)功能組成前提下實現(xiàn)的，其且就是每一個功能都會發(fā)揮*的作用，在檢測的過程中，尤其這些構(gòu)造環(huán)環(huán)相扣，確保了數(shù)據(jù)出具的準確性。所以在光譜儀采購的過程中深入的了解每一個構(gòu)造...