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可吸入顆粒二氧化硅的定量相分析

更新時間:2020-08-06點擊次數(shù):1560

  D2 PHASER是一臺便攜式X射線衍射儀它可廣泛應(yīng)用于研究和質(zhì)量控制。它操作簡便,使用方便。配備了LYNXEYE探測器的D2 PHASER衍射儀是目前市場上速度,精度的桌面衍射儀系統(tǒng)。

 

 

現(xiàn)在介紹一下D2衍射儀分析可吸入二氧化硅的應(yīng)用。

 

  可吸入二氧化硅已經(jīng)被確認(rèn)可以導(dǎo)致肺癌和其他的一些健康問題。而二氧化硅是土壤和巖石的典型的組成部分。在諸如礦工,硅藻土和建筑工人,花崗巖,陶器,耐火磚,鑄造工人等職業(yè)中,由可吸入二氧化硅導(dǎo)致的職業(yè)病已經(jīng)引起高度重視。而在這些工人的工作環(huán)境中,可吸入二氧化硅的濃度是可以監(jiān)測的。X射線粉末衍射能夠區(qū)分二氧化硅的不同晶型(石英,方石英,鱗石英)此外,X射線衍射還可以鑒別出在工作環(huán)境中存在的其他的有害物質(zhì)。在空氣中懸浮的二氧化硅顆??梢杂脼V膜來進(jìn)行采樣。

 

 

  一些發(fā)達(dá)國家制定了監(jiān)測可吸入二氧化硅的標(biāo)準(zhǔn),如NIOSH7500,OSHAID-142,MSHA的P-2等等。通常來講,確定可吸入二氧化硅的濃度需要一系列的標(biāo)準(zhǔn)樣品和通過軟件確定的定標(biāo)曲線。標(biāo)樣的制作過程是將不同重量的可吸入二氧化硅沉積在濾紙上,然后將濾紙和樣品放在一個特殊的樣品架上使用D2PH ASER測量二氧化硅的很強峰的衍射強度。實驗細(xì)節(jié)參考表1。

 

 

  圖1顯示了幾個樣品的很強衍射峰。其衍射強度與沉積在濾膜上的石英粉塵濃度成正比。D2的測量數(shù)據(jù)和由此制作的標(biāo)定曲線*符合美國NIOSH規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)。零點偏移量為2.7微克(NIOSH7500允許偏移量為±5微克)。這個例子中的檢出限(LOD)為8微克。如果增加每步的測量時間,可以進(jìn)一步降低檢出限。例如每步的時間為5秒鐘,總的掃描時間約25分鐘,可以將檢出限降低至5微克以下。對于濃度超過100微克的樣品,標(biāo)定精度優(yōu)于1%。濃度在10至100微克之間的樣品,其標(biāo)定精度約為10%。

 

 

  總之,Bruker的桌面X射線衍射系統(tǒng)D2 PHASER可以快速,準(zhǔn)確和符合規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)地對空氣中的可吸入二氧化硅顆粒濃度進(jìn)行定量分析。 

 

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